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透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。透射電鏡力電原位系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征。本公司提供的透射電鏡力電原位系統是通過MEMS芯片在原位樣品臺內構建力、電復合多場自動控制及反饋測量系統，結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式，實現從納米層面實時、動態監測樣品在真...

若TEM樣品桿長期暴露于大氣，空氣中水汽及殘留污染物會附著于樣品桿表面。當樣品桿重新安裝樣品并插入TEM中時，會發生：1.樣品桿表面(包括桿內外表面)殘存水汽緩慢地釋放，大大延長了TEM抽真空時間(由于原位TEM樣品桿內部結構復雜，內表面積大大增加，其進入TEM后抽真空延時現象尤甚)；2.殘留污染物會污染待觀察樣品，甚至會污染TEM真空腔室及內部極靴、探測器等等。高真空存桿儀的極限真空度為10-6mBar(以10桿型號為例，用戶可定制4桿、6桿等不同型號)，為樣品桿提供高真空...

材料的宏觀性能往往與其本身的成分、結構以及晶體缺陷中原子的位置等密切相關，在電子顯微鏡下觀察微觀結構離不開樣品桿或樣品臺。樣品桿的重要性還在于它是要插側入式的樣品放置在一個較長的金屬入物鏡，色差又與物鏡性能相關聯，這也就桿的*端，金屬通常是黃銅或不銹鋼，沿著使樣品桿與TEM的分辨率聯系在一起。透射電鏡4孔樣品桿可將最多4個樣品同時置入透射電鏡中，與市面常見的3孔樣品桿相比，大幅提高透射電鏡的使用效率。全新的結構設計及超高精度的旋鈕換樣方式，幫助降低漂移率，提高成像質量。透射電...

CreateWorld-LeadingIn-SituElectronMicroscopySolutions公司簡介CHIPNOVA（超新芯）是早期原位芯片技術開發研究者、國家高層次引進人才創辦的高科技企業，致力于為客戶提供全面的原位表征方案，并將相關技術應用服務于民用領域。CHIPNOVA擁有MEMS芯片制造和原位電鏡方面的資深團隊，10余年來產品和技術不斷迭代提升，目前已涉及原位芯片、生化醫療芯片、集成傳感芯片等。其中原位芯片在材料、催化、能源、環境、化學、生物等領域廣泛應...

公司簡介CHIPNOVA（超新芯）是早期原位芯片技術開發研究者、國家高層次引進人才創辦的高科技企業，致力于為客戶提供全面的原位表征方案，并將相關技術應用服務于民用領域。CHIPNOVA擁有MEMS芯片制造和原位電鏡方面的資深團隊，10余年來產品和技術不斷迭代提升，目前已涉及原位芯片、生化醫療芯片、集成傳感芯片等。其中原位芯片在材料、催化、能源、環境、化學、生物等領域廣泛應用，相關成果發表在Science、Nature子刊等SCI期刊上，服務包括北大、浙大等眾多高校和科研單位，...