本公司提供的透射電鏡力電原位系統是通過MEMS芯片在原位樣品臺內構建力、電復合多場自動控制及反饋測量系統,結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式,實現從納米層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨電場、施加力變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等關鍵信息。
透射電鏡力電原位系統的優勢:
1、力學性能
(1)高精度壓電陶瓷驅動,納米級別精度數字化精確定位。
(2)可進行壓縮、拉伸、彎曲等微觀力學性能測試。
(3)nN級力學測量噪音。
(4)具備連續的載荷-位移-時間數據實時自動收集功能。
(5)具備恒定載荷、恒定位移、循環加載控制功能,適用于材料的蠕變特性、應力松弛、疲勞性能研究。
2、優異的電學性能
(1)芯片表面的保護性涂層保證電學測量的低噪音和精確性,電流測量精度可達皮安級。
(2)MEMS微加工特殊設計,電場和力學加載同時進行,相互獨立控制。
3、智能化軟件
(1)人機分離,軟件遠程控制納米探針運動。
(2)自動測量載荷-位移數據。