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您了解透射電鏡力電原位系統嗎?

更新時間:2023-02-20      點擊次數:935
透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。透射電鏡力電原位系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量,并可在電學測量的同時,動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征。

本公司提供的透射電鏡力電原位系統通過MEMS芯片在原位樣品臺內構建力、電復合多場自動控制及反饋測量系統,結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式,實現從納米層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨電場、施加力變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等關鍵信息。

透射電鏡力電原位系統的優勢:

1、力學性能

(1)高精度壓電陶瓷驅動,納米級別精度數字化精確定位。

(2)可進行壓縮、拉伸、彎曲等微觀力學性能測試。

(3)nN級力學測量噪音。

(4)具備連續的載荷-位移-時間數據實時自動收集功能。

(5)具備恒定載荷、恒定位移、循環加載控制功能,適用于材料的蠕變特性、應力松弛、疲勞性能研究。

2、優異的電學性能

(1)芯片表面的保護性涂層保證電學測量的低噪音和精確性,電流測量精度可達皮安級。

(2)MEMS微加工特殊設計,電場和力學加載同時進行,相互獨立控制。

3、智能化軟件

(1)人機分離,軟件遠程控制納米探針運動。

(2)自動測量載荷-位移數據。

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