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掃描電鏡高溫力學原位系統

簡要描述:掃描電鏡高溫力學原位系統通過MEMS芯片在原位樣品臺內構建力、熱復合多場自動控制及反 饋測量系統,結合EDS、EBSD等多種不同模式,實現從納米層面實 時、動態監測樣品在真空環境下隨溫度、施加力變化產生的微觀結構 演化、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等 關鍵信息。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2023-12-27
  • 訪  問  量: 6711

詳細介紹


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我們的優勢

力學性能

1.高精度壓電陶瓷驅動,納米級別精度數字化精確定位。

2.實現1200℃加熱條件下壓縮、拉伸、彎曲等微觀力學性能測試。

3.nN級力學測量噪音。

4.具備連續的載荷-位移-時間數據實時自動收集功能。

5.具備恒定載荷、恒定位移、循環加載控制功能,適用于材料的蠕變特性、應力松弛、疲勞性能研究。


優異的熱學性能

1.高精密紅外測溫校正,微米級高分辨熱場測量及校準,確保溫度的準確性。

2.超高頻控溫方式,排除導線和接觸電阻的影響,測量溫度和電學參數更精確。

3.采用高穩定性貴金屬加熱絲(非陶瓷材料),既是熱導材料又是熱敏材料,其電阻與溫度有良好的線性關系,加熱區覆蓋整個觀測區域,升溫降溫速度快,熱場穩定且均勻,穩定狀態下溫度波動≤±0.1℃。

4.采用閉合回路高頻動態控制和反饋環境溫度的控溫方式,高頻反饋控制消除誤差,控溫精度±0.01℃。

5.DUTE多級復合加熱MEMS芯片設計,控制加熱過程熱擴散,極大抑制升溫過程的熱漂移,確保實驗的高效觀察。


高效的智能化軟件

1.人機分離,軟件遠程控制納米探針運動和樣品載臺傾轉,自動測量載荷-位移數據。

2.自定義程序升溫曲線??啥x10步以上升溫程序、恒溫時間等,同時可手動控制目標溫度及時間,在程序升溫過程中發現需要變溫及恒溫,可即時調整實驗方案,提升實驗效率。

3.內置絕對溫標校準程序,每塊芯片每次控溫都能根據電阻值變化,重新進行曲線擬合和校正,確保測量溫度精確性,保證高溫實驗的重現性及可靠性。



技術參數

類別項目參數
基本參數臺體材質高強度航空鋁合金
控制方式高精度壓電陶瓷
樣品載臺傾轉角360°旋轉和±90°傾斜
適用電鏡ZEISS、Thermo Fisher等主流電鏡
EBSD/EDS支持



























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